CEM華盛昌DT-156涂鍍層測(cè)厚儀DT156涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品參數(shù):
CEM華盛昌DT-156涂鍍層測(cè)厚儀
性?xún)r(jià)比兩用測(cè)厚儀 DT-156涂鍍層測(cè)厚儀是CEM華盛昌推出的一款測(cè)厚儀產(chǎn)品。高精確度和人體工程學(xué)設(shè)計(jì)使此產(chǎn)品廣泛適用于各種高精度厚度要求的測(cè)量工作環(huán)境。 此產(chǎn)品在磁性和非磁性物質(zhì)表面上涂鍍層厚度都可以進(jìn)行測(cè)量,在汽車(chē)、工業(yè)、建筑、機(jī)械設(shè)備等生產(chǎn)和應(yīng)用領(lǐng)域都能發(fā)揮應(yīng)用的作用。 DT-156涂鍍層測(cè)厚儀探頭可以在電磁感應(yīng)和渦流兩種原理下工作。在自動(dòng)模式(AUTO)下,兩種原理可視測(cè)量的基體自動(dòng)轉(zhuǎn)換,或可通過(guò)菜單進(jìn)行自動(dòng)模式和非自動(dòng)模式轉(zhuǎn)換。 |
DT-156特色 1.可測(cè)量涂鍍層:任何磁性物質(zhì)表面的非磁性涂鍍層厚度;任何非磁性金屬表面的絕緣涂鍍層厚度; 2.測(cè)量厚度:0~1250um(0~49.21mils) 3.連續(xù)和單次測(cè)量方式 4.直接工作模式和組工作模式 5.可統(tǒng)計(jì)并顯示:平均值/大值/小值/標(biāo)準(zhǔn)方差/統(tǒng)計(jì)數(shù) 6.非常方便的進(jìn)行一點(diǎn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn) 7.可保存400個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)(80個(gè)原始數(shù)據(jù)和320個(gè)組數(shù)據(jù)) 8.USB傳輸數(shù)據(jù)至計(jì)算機(jī)分析統(tǒng)計(jì) 9.實(shí)時(shí)刪除測(cè)量數(shù)據(jù)和組數(shù)據(jù) 10.高低限報(bào)警 11.低電和錯(cuò)誤提示可設(shè)置的自動(dòng)關(guān)機(jī)功能 12.易操作的菜單設(shè)計(jì) |
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| DT-156結(jié)構(gòu)介紹 1.USB接口 2.帶背光源LCD顯示屏 3.菜單模式下“確定";工作模式“進(jìn)入" 4.菜單模式下“退出、返回";工作模式“背光鍵" 5.向上/向左翻/遞減鍵 6.向下/向右翻/遞增鍵 7.電源開(kāi)關(guān)鍵 8.零校準(zhǔn)鍵 9.測(cè)試探頭 |
1.工作模式: 1-1.AOTO:探頭根據(jù)待測(cè)物體性質(zhì)(鐵磁性物質(zhì)或非鐵磁性金屬)自動(dòng)轉(zhuǎn)入相應(yīng)工作模式。如果待測(cè)物體是鐵鎳等磁性金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入磁感應(yīng)原理工作模式;如果待測(cè)物體時(shí)非磁性的金屬物質(zhì),探頭將轉(zhuǎn)入渦流原理工作模式。 1-2.Fe:探頭將是磁感應(yīng)原理工作模式。 1-3.No-Fe:探頭將是渦流原理工作模式。 2.直接測(cè)量(DIR):開(kāi)機(jī)默認(rèn)為此模式。用于快速隨意測(cè)量。在此模式下,測(cè)量數(shù)據(jù)會(huì)臨時(shí)保存在內(nèi)存中,可以通過(guò)菜單瀏覽所有已存數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值,但一旦關(guān)機(jī)、系統(tǒng)掉電或從直接測(cè)量模式切換到組工作模式,這些數(shù)據(jù)將會(huì)丟失。此模式下,可統(tǒng)計(jì)80個(gè)數(shù)據(jù),讀數(shù)將替換最舊讀數(shù)并保存更新統(tǒng)計(jì)值。 3.組測(cè)量(GR01~GR04):每一組工作模式下,系統(tǒng)可保存最多80個(gè)數(shù)據(jù),5個(gè)統(tǒng)計(jì)值。關(guān)機(jī)和掉電,所有保存值不會(huì)丟失,并且組與組之間相互獨(dú)立不受影響,需要?jiǎng)h除保存的值,可通過(guò)菜單操作進(jìn)行。當(dāng)測(cè)量數(shù)據(jù)超出80個(gè),數(shù)據(jù)測(cè)量可以繼續(xù)進(jìn)行,但是所有數(shù)據(jù)將不被保存和統(tǒng)計(jì)計(jì)算。如有需要,可通過(guò)菜單刪除組數(shù)據(jù)。 |
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| 4.讀數(shù)瀏覽:通過(guò)“Measurement view"菜單項(xiàng),瀏覽當(dāng)前工作組所有測(cè)量讀數(shù)。 5.測(cè)量中的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù):厚度統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可統(tǒng)計(jì)80個(gè)讀數(shù)(GR01~GR04總共最多可存儲(chǔ)4*80=320個(gè)讀數(shù))。此外,在DIR模式除了讀數(shù)不存儲(chǔ)外,其他和GRO模式相同。 NO.:開(kāi)機(jī)以來(lái)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)的讀數(shù)個(gè)數(shù) AVG:平均值 Sdev:標(biāo)準(zhǔn)方差 MAX:大讀數(shù) MIN:小讀數(shù) |
DT-156規(guī)格參數(shù) 測(cè)量厚度:0~1250um(0~49.21mils) 精度:0~50um(0.1um);50~850um(1um);850~1250um(0.01mm) 誤差:0~850um(±3%+1um);850~1250um(±5%) 工作原理:磁感應(yīng)(鐵磁性)、渦流(非鐵磁性) 測(cè)量最小曲率半徑:1.5mm(鐵磁性)、3mm(非鐵磁性) 最小測(cè)量面積:7mm(鐵磁性)、5mm(非鐵磁性) 可測(cè)量基體最小厚度:0.5mm(鐵磁性)、0.3mm(非鐵磁性) 工作環(huán)境要求:0~40℃/20%90%RH 單位換算:mil(PCB 或晶片布局的長(zhǎng)度單位):1 mil = 千分之一英寸,1mil = 0.0254mm 尺寸:113.5*54*27mm 重量:110g |
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